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Palas-U-SMPS 1700
    发布时间: 2022-05-30 09:06    
Palas-U-SMPS 1700

  1. 2至400 nm粒径分布

  2. 连续和快速扫描的测量原理

  3. 高分辨率,多达128个分类器/衰减

  4. 适用于高达10^8颗粒/立方厘米的浓度

  5. 通用连接其他制造商的DMA和纳米粒子计数器

  6. 图形显示测量值

  7. 直观操作,使用7英寸触摸屏和GUI

  8. 集成数据记录仪

  9. 支持多种接口和远程访问

  10. 低维护

  11. 功能可靠

  12. 减少您的运营费用

适用于高气溶胶浓度的Palas®通用扫描迁移率粒度仪(U-SMPS)有两种版本。 U-SMPS带有短分类柱(1700型),特别适合2-400 nm范围内的极高精度粒度分布测量。Palas®U-SMPS系统包括一个分类器[在ISO 15900中定义称为差动迁移率分类器(DEMC),也称为差动迁移率分析仪(DMA)],根据气溶胶颗粒电迁移率选择气溶胶颗粒并传递到出口。然后,在下游的Charme®气溶胶静电计中测量这些粒子携带的电荷。

气溶胶静电计的一个主要优点是可以进行非常快速的测量。但是,这种方法需要很高的成本。因此,其适用性被限制于高气溶胶浓度(例如,燃烧过程或颗粒发生器的下游)。可以通过物理参数直接追溯每时间单位(流量)的电荷测量值。其结果是,此方法主要用作凝结粒子计数器(例如UF-CPC)校准期间的参考。

U-SMPS使用触摸屏图形用户界面进行操作。可以在短短30秒内执行单粒子分布扫描,或者在多达128个尺寸通道中执行扫描,在此期间,DEMC分类器中的电压连续变化,从而导致每个尺寸通道的计数统计效率更高。集成的数据记录器允许在设备上线性和对数显示测量值。随附的评估软件提供各种数据评估(丰富的统计和平均值计算)和导出功能。

U-SMPS通常作为独立设备运行,但也可以使用各种接口(USB,LAN,WLAN,RS-232 / 485)连接到计算机或网络。 Palas®U-SMPS普遍支持其他制造商的DMA,CPC和气溶胶静电计。

U-SMPS的准确尺寸测定和可靠性能尤其重要,特别是对于校准。所有组件都必须通过严格的质量保证测试,并在内部组装。

图1展示U-SMPS的工作原理:

图1:使用气溶胶静电计作为浓度测量装置的通用扫描迁移率粒度仪(U-SMPS)的工作原理

气溶胶在进入分类器(DEMC列)之前经过调节。可选的干燥器(例如硅胶,Nafion)可以去除颗粒中的水分。使用双极中和剂(例如Kr 85)来确保测定的气溶胶电荷分布。为了去除大于分类器尺寸范围的颗粒,需要在DEMC的入口处使用撞击器。

然后,气溶胶通过入口导入DEMC色谱柱。沿着外部电极的气溶胶流在此与护套气流仔细合并。重要的是在此处避免任何湍流,以确保层流。电极的表面在光滑度和公差方面必须具有极高的质量。

鞘空气是干燥、无颗粒的载气(通常是空气),其体积大于连续在闭环中循环的气溶胶体积。鞘空气与样品空气的体积比决定传递函数,因此决定DEMC的分离能力。通过施加电压,在内外电极之间会产生一个径向对称的电场。内电极在末端带有小缝隙,带正电。通过平衡每个粒子上的电场力及其在电场中的空气动力学阻力,带负电的粒子被转移到正电极。根据它们的电迁移率,一些颗粒会穿过狭缝并离开DEMC。

在工作中,电压和电场因此而连续变化。结果,具有变化迁移率的颗粒会离开DEMC,并且由纳米颗粒计数器 – 在此显示为气溶胶静电计(例如Palas®Charme®)连续测量。