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灵柯精密仪器 | Palas SMPS扫描电迁移率粒径谱仪——先进的纳米颗粒测量系统
来源: | 作者:灵柯精密仪器 | 发布时间: 2021-04-07 | 230 次浏览 | 分享到:

Palas® SMPS扫描电迁移率粒径谱仪是先进的纳米颗粒测量系统,可测量4nm到1200nm的气溶胶粒径分布,不仅能够提供准确可靠的粒径分析和计数功能,而且高达256原始通道能够实现高粒径分辨率。SMPS全系列多组合满足不同浓度、粒径分布范围气溶胶分析需求;桌面式简便操作,易上手;连接方便,可灵活搭载各种预处理装置(如稀释装置等);开放式数据文件,读取和分析便捷;可实现自检测和校准;超强兼容性和灵活性,可以跟市场主流计数器兼容等。

U-SMPS 2050X/2100X/2200X

Palas® 通用扫描迁移率粒径谱仪(U-SMPS)可提供两种版本。长分类柱(2050X / 2100X / 2200X 型号)可以确定 8 1200 nm 的粒径分布。该系列已经集成了 X 射线源作为中和器,代替放射性中和器(例如使用 Kr-85),优点是在运输过程中无需遵循针对放射源的要求。Palas®U-SMPS 系统包括一个分类器 [ ISO15900 中定义为电迁移率分级器(DEMC),也称为微分迁移率分析仪(DMA],可根据气溶胶颗粒的电迁移率选择相应的气溶胶颗粒并传送到出口。然后通过冷凝颗粒计数器(例如 UF-CPC)对这些颗粒进行计数。三种可用的 UF-CPC 型号可在各种浓度范围内实现最佳的单颗粒计数。Palas 使用了由 Wiedensohler 教授(IfTLeipzig,德国)开发的演算算法,将测量数据转化为 U-SMPS 的颗粒分布。

U-SMPS 使用图形化用户界面并在触摸屏上进行操作。一次粒子分布扫描可以在短短 30 秒之内执行,并且每十进制多达 64 个尺寸通道。在扫描期间,DEMC 分类器中的电压连续变化,从而导致每个尺寸通道的计数统计效率更高。集成的数据记录器允许在设备上设置线性或对数显示测量值。随附的评估软件可提供各种数据评估(各种统计和平均值),以及导出功能。U-SMPS 通常作为独立设备运行,但也可以连接到计算机或使用各种接口(USBLANWLANRS-232 / 485)连接网络。Palas®U-SMPS 支持 DMACPC 和其他制造商的气溶胶静电计。U-SMPS 对颗粒物准确的尺寸确定和可靠性能极其重要,尤其是对于校准来说。所有组件都必须通过严格的质量保证测试,并且必须内部组装。

产品优势

§ 粒径分布范围为 4nm 1.2μm

§ 连续快速扫描测量原理;

§ 高分辨率,最多 128 个尺寸通道 / 十进制;

§ 适用于最高 10^8 颗粒 / cm^3 的浓度;

§ 跟其他制造商的 DMA 和纳米颗粒计数器通用;

§ 图形显示测量结果;

§ 7 英寸触摸屏和 GUI 直观操作;

§ 内置数据记录仪;

§ 支持多种接口和远程访问;

§ 低维护;

§ 功能可靠;

§ 减少您的运营费用

典型应用

§ 过滤测试;

§ 气溶胶研究;

§ 环境与气候研究;

§ 吸入实验;

§ 室内和工作场所测量